供应武汉日本三丰显微镜 武汉三丰显微镜FS-70

武汉日本三丰显微镜 武汉三丰显微镜FS-70
FS-70
378 系列 — 半导体检测用显微镜
特点
• 此光学系统较初是为**的 FS60 型 (后升级为 FS70 型) 而开发的。它作为测量检测半导体器件的显微镜是很理想的。
• FS70L 支持3 种YAG 激光波长(1064nm,532nm, 355nm)， FS70L4 支持 2 种波长(532nm,
266nm)，可在半导体和液晶基板中使用激光切割和薄膜技术。这就扩大了激光的使用范围。然而，使用三丰量具对显微镜的激光系统的性能和安全性，三丰公司不负责任。我们推荐在选购激光发射器时应仔细检查。
• FS70Z 的标准功能有：亮视场，微分干涉对比 (DIC) 和偏振观测。FS70L 和FS70L4 不
支持 DIC。使用内置式转换器使得长工作距离物镜的操作很简单。
• 较易操作的设计：FS70 采用正像光学系统(视场中的像与样品方向相同) 并用橡胶把手加大微调手轮。