供应武汉日本三丰金相显微镜 三丰金相显微镜FS-300

武汉日本三丰金相显微镜 三丰金相显微镜FS-300

FS-300 是为了检测如 IC 芯片和摄像头零件等微型元件而设计的。此光学系统的特点是物镜的工作距离**长，目镜视场宽以及具有独立的侧面色差校正系统。
特点
• 完整的 FS-300 系统可由不同部件组成以满足不同的需求。
• 有无透射照明都可工作。
• 物镜的**长工作距离使得操作变得更加*。
• 亮／暗视场照明之间的转换*。
• 选件的使用可扩大适用范围。